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GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀 參考價(jià)：面議
GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀中的測(cè)試夾具依據(jù)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ASTM D150方法設(shè)計(jì)，采用平行板電極原理，測(cè)試電極由上下電極+保護(hù)電極組成。上下電有良好的...
高溫鐵電材料性能測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：9999
GWTF-300高溫鐵電材料性能測(cè)試系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測(cè)量系統(tǒng)，旨在針對(duì)一些特殊的要求材料需要在高溫下測(cè)量而研發(fā)的一套鐵電測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在...
HTIM-1001A高溫電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
HTIM-1001A高溫電阻測(cè)試儀采用四端測(cè)量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體...
DPT-LCR1000高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
DPT-LCR1000高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)適用于電介質(zhì)材料介電溫譜、阻抗譜、頻譜掃描的測(cè)試。系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試箱、高溫測(cè)試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設(shè)備無...
HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
電阻率表征技術(shù)是典型的金屬、合金相變行為研究手段，比如在鋼中的碳運(yùn)動(dòng)行為分析、或是合金析出動(dòng)力學(xué)研究、以及形狀記憶合金的預(yù)相變行為表征的方面。電阻率對(duì)這些相變行...
高低溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)(-190℃-1000℃） 參考價(jià)：9999
GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量，并參考美國(guó)A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介...
GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀 參考價(jià)：9999
產(chǎn)品簡(jiǎn)介GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當(dāng)前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀，產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國(guó)產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界...
TFVT-1000型薄膜變溫電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
TFVT-1000型薄膜變溫電阻測(cè)試儀一款兼具薄膜和塊體（可擴(kuò)展）的測(cè)試各種薄膜材料在高溫、真空、氣氛條件下的電阻和電阻率，可以用來分析樣品的電阻率隨溫度變化曲...
材料高低溫電阻率測(cè)試儀（-160℃-600℃） 參考價(jià)：9999
HTIM-3高低溫材料電阻率測(cè)試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電...
四通道同屏對(duì)比測(cè)試高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：9999
四通道同屏對(duì)比測(cè)試高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量，并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜...
TDNX-1200型金屬高溫電阻測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：9999
TDNX-1200型金屬高溫電阻測(cè)量?jī)x是一款專門針對(duì)于任意大小形狀及尺寸的金屬材料電阻測(cè)試高溫系統(tǒng)，常見的不銹鋼、鍍鋅鋼、銅合金、鎳合金等金屬材料均可測(cè)試。設(shè)備...
JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng) 參考價(jià)：9999
JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統(tǒng)是將焦耳熱閃蒸技術(shù)與冷熱臺(tái)相結(jié)合的極寬溫域、超快速度材料合成和調(diào)控系統(tǒng)，可有效調(diào)控合成材料的微觀形貌和結(jié)構(gòu)。我們提供常溫的...
型高溫超導(dǎo)材料交流磁化率測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：9999
HTCAS-300型高溫超導(dǎo)材料交流磁化率測(cè)量?jī)x
高溫四探針綜合測(cè)試系統(tǒng)（包含薄膜 參考價(jià)：9999
GWST-1000型高溫四探針綜合測(cè)試系統(tǒng)（包含薄膜，塊體功能）是為了更方便的研究在高溫條件下的半導(dǎo)體的導(dǎo)電性能，該系統(tǒng)可以*實(shí)現(xiàn)在高溫、真空及惰性氣氛條件下測(cè)...
高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試，該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開發(fā)，可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量...
高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
HTIM-1000高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率主要用于評(píng)估測(cè)量絕緣材料電學(xué)性能，該系統(tǒng)采用三環(huán)電極法設(shè)計(jì)原...
熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：9999
PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng)關(guān)鍵詞：熱釋電，激光，紅外 熱釋電材料目前主要用于紅外、激光等熱釋電探測(cè)領(lǐng)域,也廣泛地使用在各類輻射計(jì),光譜儀,以及紅外...
TSC/TSDC-200型熱刺激電流測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
熱刺激電流（Thermally Stimulated Current，TSD）技術(shù)是通過將樣品線性升溫，使材料中不同陷阱能級(jí)內(nèi)的空間電荷脫阱，或使取向的偶極分子...
TFRT-300型薄膜變溫電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
TFRT-300型薄膜變溫電阻測(cè)試儀是一款多用途的電阻測(cè)試儀，即可應(yīng)用于金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測(cè)量，也可以應(yīng)用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁...
MTDL-1000型高溫金屬熔融電導(dǎo)率測(cè)試裝置 參考價(jià)：9999
BLDL-1000型高溫金屬熔融電導(dǎo)率測(cè)試裝置是一款專門應(yīng)用于金屬電導(dǎo)率測(cè)量的，它是一種在高溫下測(cè)量金屬材料在高溫下熔融的電導(dǎo)率(電阻率）的裝置。熔體的電導(dǎo)率是...
2024年三環(huán)電極法新款高溫絕緣電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：9999
HTIM-300型高溫絕緣電阻測(cè)試儀是一款集絕緣電阻測(cè)試儀、皮安計(jì)、數(shù)字電位計(jì)、數(shù)字高壓源表四合一的專業(yè)儀器。本儀器可輸出0.5V-1000V之間任意電壓，滿足...
三電極 HTIM-1600℃超高溫絕緣電阻測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
HTIM-1600超高溫絕緣電阻測(cè)試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量...
高溫電阻測(cè)試儀I電阻率I電阻三合一 參考價(jià)：面議
HTIM-1000A高溫電阻測(cè)試儀采用四端測(cè)量方法在高溫環(huán)境下對(duì)導(dǎo)電及半導(dǎo)電材料的電阻進(jìn)行評(píng)估，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體...
2000℃超高溫導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
HTRT-2000型2000℃超高溫導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀本系統(tǒng)主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片，上位機(jī)智能管理分析軟件、真空...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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